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In SEM HT strumento di nanoindentazione in situ ad alta temperatura
In-SEM HT in situ nanostampatore ad alta temperatura
Dettagli del prodotto

InSEM HTMisurare la durezza, il modulo e la durezza alle alte temperature riscaldando separatamente la punta e il campione in un ambiente vuoto.INSEM®HTMicroscopia elettronica di scansione(SEMRaggio ionico a fuoco(FIB)O compatibile con camere a vuoto indipendenti. perifericoInViewIl software può aiutare nello sviluppo di nuovi esperimenti. Le pubblicazioni scientifiche indicano che,InSEM HTI risultati sono coerenti con i tradizionali dati di test ad alta temperatura su larga scala. L'ampio intervallo di temperatura consenteInSEM HTDiventare uno strumento di grande valore per lo sviluppo di materiali di ricerca.

funzione principale

Misura continua della rigidezza(CSM

CSMLa tecnologia prevede la misurazione delle proprietà meccaniche in funzione della profondità, della forza, del tempo o della frequenza durante il processo di indentazione. Questo schema adotta la prova costante della velocità di deformazione per misurare la durezza e il modulo come funzioni di profondità o carico, che è il metodo di prova più comunemente usato nel mondo accademico e nell'industria.CSMViene utilizzato anche per altri test avanzati, tra cui la misura del modulo di archiviazione e perditaProbeDMAMetodo eAccuFilmMisura indipendente del substrato.CSMIntegrato nel controller eInViewNel software, fornisce facilità d'uso e qualità dei dati senza pari.

NanoBlitz3D

NanoBlitz 3DutilizzareInforcecinquantaIl caricatore utilizza un indenter Bose per misurare l'altezzaE>3Gpa)Il diagramma di misura tridimensionale del materiale.NanoBlitz1L'indentazione è inferiore aPunti/ s10Al massimoDiecimila impressioni(300x300L'array fornisce il modulo, la durezza e la rigidezza di ogni indentazione sotto carico dello Young, e test approfonditi migliorano l'accuratezza statistica.NanoBlitz 3D

Fornisce anche software di visualizzazione e funzioni di elaborazione dati.AccuFilm

Pacchetto metodo a film sottileAccuFilmIl pacchetto del metodo del film sottile è basato suHay-CrawfordUn nuovo metodo di prova per il modello, facendo uso della misura continua di rigidezza(CSM) Misurare le caratteristiche indipendenti del materiale del substrato.AccuFilm

Corretta l'influenza del substrato sulla misura di film duri su substrati morbidi e film morbidi su substrati duri.ProbeDMA

Pacchetto metodo polimericoL'imballaggio polimerico può misurare il modulo dei polimeri in funzione della frequenza. Questo test comprende un punzone piatto, materiale di riferimento viscoelastico e un metodo di prova per valutare le proprietà viscoelastiche. Questa tecnica di misura è una tecnologia chiave per caratterizzare nanopolimeri e film polimerici, mentre i metodi tradizionaliDMA

L'apparecchiatura di prova non può testare bene questi film.

Funzione di prova di graffio e usura

La prova di graffio applica un carico costante o inclinato all'indenter quando passa attraverso la superficie del campione ad una velocità specificata. I test di graffio possono caratterizzare molti sistemi materiali, come pellicole sottili, ceramiche fragili e polimeri.

DataBurstDataBurstintegrazioneInViewSoftware eInQuestSistema di controllo, utilizzando più di1kHz

Registrare i dati di spostamento ad una certa velocità per misurare cambiamenti improvvisi nei carichi di salto ad alta tensione negli esperimenti. Particolarmente adatto per esperimenti di prova che raccolgono grandi quantità di dati in caso di frattura istantanea o esplosione di compressione.Gemini 2D

Sensore multi asse Gemini 2D


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